正向电压降低、暗光
(1)一种是电极与发光材料为欧姆接触 , 但接触电阻大 , 主要由材料衬底低浓度或电极缺损所致 。
(2)一种是电极与材料为非欧姆接触 , 主要发生在芯片电极制备过程中蒸发第一层电极时的挤压印或夹印 , 分布位置 。
另外封装过程中也可能造成正向压降低 , 主要原因有银胶固化不充分 , 支架或芯片电极沾污等造成接触电阻大或接触电阻不稳定 。
正向压降低的芯片在固定电压测试时 , 通过芯片的电流小 , 从而表现暗点 , 还有一种暗光现象是芯片本身发光效率低 , 正向压降正常 。
难压焊
(1)打不粘:主要因为电极表面氧化或有胶
(2)有与发光材料接触不牢和加厚焊线层不牢 , 其中以加厚层脱落为主 。
(3)打穿电极:通常与芯片材料有关 , 材料脆且强度不高的材料易打穿电极 , 一般GAALAS材料(如高红 , 红外芯片)较GAP材料易打穿电极 。
(4)压焊调试应从焊接温度 , 超声波功率 , 超声时间 , 压力 , 金球大小 , 支架定位等进行调整 。
发光颜色差异
(1)同一张芯片发光颜色有明显差异主要是因为外延片材料问题 , ALGAINP四元素材料采用量子结构很薄 , 生长是很难保证各区域组分一致 。 (组分决定禁带宽度 , 禁带宽度决定波长) 。
(2)GAP黄绿芯片 , 发光波长不会有很大偏差 , 但是由于人眼对这个波段颜色敏感 , 很容易查出偏黄 , 偏绿 。 由于波长是外延片材料决定的 , 区域越小 , 出现颜色偏差概念越小 , 故在M/T作业中有邻近选取法 。
(3)GAP红色芯片有的发光颜色是偏橙黄色 , 这是由于其发光机理为间接跃进 。 受杂质浓度影响 , 电流密度加大时 , 易产生杂质能级偏移和发光饱和 , 发光是开始变为橙黄色 。
闸流体效应
(1)是发光二极管在正常电压下无法导通 , 当电压加高到一定程度 , 电流产生突变 。
(2)产生闸流体现象原因是发光材料外延片生长时出现了反向夹层 , 有此现象的LED在IF=20MA时测试的正向压降有隐藏性 , 在使用过程是出于两极电压不够大 , 表现为不亮 , 可用测试信息仪器从晶体管图示仪测试曲线 , 也可以通过小电流IF=10UA下的正向压降来发现 , 小电流下的正向压降明显偏大 , 则可能是该问题所致 。
【LED芯片常遇到的6大问题】反向漏电流IR
在限定条件下反向漏电流为二极管的基本特性 , 按LED以前的常规规定 , 指反向电压在5V时的反向漏电流 。 随着发光二极管性能的提高 , 反向漏电流会越来越小 。 IR越小越好 , 产生原因为电子的不规则移动 。
(1)芯片本身品质问题原因 , 可能晶片本身切割异常所导致 。
(2)银胶点的太多 , 严重时会导致短路 。 外延造成的反向漏电主要由PN结内部结构缺陷所致 , 芯片制作过程中侧面腐蚀不够或有银胶丝沾附在测面 , 严禁用有机溶液调配银胶 。 以防止银胶通过毛细现象爬到结区 。
(3)静电击伤 。 外延材料 , 芯片制作 , 器件封装 , 测试一般5V下反向漏电流为10UA , 也可以固定反向电流下测试反向电压 。 不同类型的LED反向特性相差大:普绿 , 普黄芯片反向击穿可达到一百多伏 , 而普红芯片则在十几二十伏之间 。
(4)焊线压力控制不当 , 造成晶片内崩导致IR升高 。
解决方案:
(1)银胶胶量需控制在晶片高度的1/3~1/2;
(2)人体及机台静电量需控制在50V以下;
(3)焊线第一点的压力应控制在30~45g之间为佳 。
死灯现象
(1)LED的漏电流过大造成PN结失效 , 使LED灯点不亮 , 这种情况一般不会影响其他的LED灯的工作 。
(2)LED灯的内部连接引线断开 , 造成LED无电流通过而产生死灯 , 这种情况会影响其他的LED灯的正常工作 , 原因是由于LED灯工作电压低(红黄橙LED工作电压1.8v-2.2v , 蓝绿白LED工作电压2.8-3.2v) , 一般都要用串、并联来联接 , 来适应不同的工作电压 , 串联的LED灯越多影响越大 , 只要其中有一个LED灯内部连线开路 , 将造成该串联电路的整串LED灯不亮 , 可见这种情况比第一种情况要严重的多 。
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