IC测试是什么 ic测试的现状

【IC测试是什么 ic测试的现状】
IC测试工程师的职业发展前景
随着测试成本的增加 , 可测试设计在未来的IC设计活动中将具有突出地位 , 在未来的设计活动中会有20%的测试人员 。测试工程师在圆握目前的需求量来说 , 缺口氏正较多 。但测试工程师并不适合长期任职 , 做测试工程师有长足进步后 , 需要开始转型向其他职业发展 , 在IC测试方面继续提高 , 例如高级测试工程师 , 测试经理 , 测试主管 。也或者转向需要较高能力水平的IC设计工程师 。这都是测试工程歼腔悔师需要进一步努力的 。选择合适的目标将有利于未来的职业发展

IC测试是什么?IC测试业是集成电路产业中一个重要组成部分 , 从产品设计开始至完成加工全过程 , 提供给客户的产品是否合格就是通过测试完成的 。随着集成电路产业分工日益明晰 , 集成电路测试作为设计、制造和封装的有力补充 , 推动了产业的迅速发展 。
芯片IC测试工程师的前景好吗?芯片IC测试工程师的前景还是不错的 。
测试工程师 , 软件质量的把关者 , 工作起点高 , 发展空间大 。我国的软件测试职业还处于一个发展的阶段 , 所以测试工程师具有较大发展前景 。
传统的软件行业还是以软件测试工程师为主 , 但是在新兴的互联网行业大多还是以QA来命名这个职位 , 也就是质量保证 。
测试人员
1.编写测试计划、规划详细的测试方案、编写测试用例 。
2.根据测试计划搭建和维护测试环境 。
3.执行测试工作 , 提交测试报告 。包括编写用于测试的自动测试脚本 , 完整地记录测试结果 , 编写完整的测试报告等相关的技术文档 。
4.对测试中发现的问题进行详细分析和准确定位 , 与开发人员讨论缺陷解决方案 。
5.提出对产品的进一步改进的建议 , 并评估改进方案是否合理;对测试结果进行总结与统计分析 , 对测试进行跟踪 , 并提出反馈意见 。
6.为业务部门提供相应技术支持 , 确保软件质量指标 。
怎样测量IC的好坏?
一、 查板方法: 1.观察法:有无烧糊、烧断、起泡、板面断线、插口锈蚀 。2.表测法:+5V、GND电阻是否是太小(在50欧姆以下) 。3.通电检查:对明确已坏板 , 可略调高电压0.5-1V , 开机后用手搓板上的IC , 让有问题的芯片发热 , 从而感知出来 。4.逻辑笔检查:对重点怀疑的IC输入、输出、控制极各端检查信号有无、强弱 。5.辨别各大工作区:大部分板都有区域上的明确分工 , 如:控制区(CPU)、时钟区(晶振)(分频)、背景画面区、动作区(人物、飞机)、声音产生合成区等 。这对电脑板的深入维修十分重要 。二、排错方法:1.将怀疑的芯片 , 根据手册的指示 , 首先检查输入、输出端脊郑是否有信号(波型) , 如有入无出 , 再查IC的控制信号(时钟)等的有无 , 如有则此IC坏的可能*极大 , 无樱族颂控制信号 , 追查到它的前一极 , 直到找到损坏的IC为止 。2.找到的暂时不要从极上取下可选用同一型号 。或程序内容相同的IC背在上面 , 开机观察是否好转 , 以确认该IC是否损坏 。3.用切线、借跳线法寻找短路线:发现有的信线和地线、+5V或其它多个IC不应相连的脚短路 , 可切断该线再测量 , 判断是IC问题还是板面走线问题 , 或从其它IC上借用信号焊接到波型不对的IC上看现象画面是否变好 , 判断该IC的好坏 。4.对照法:找一块相同内容的好电脑板对照测量相应IC的引脚波型和其数来确认的IC是否损坏 。5.用微机万用编程器(ALL-03/07)(EXPRO-80/100等)中的ICTEST软件测试IC 。三、电脑芯片拆卸方法:1.剪脚法:不伤板 , 不能再生利用 。2.拖锡法:在IC脚两边上焊满锡 , 利用高温烙铁来回拖动 , 同时起出IC(易伤板 , 但可保全测试IC) 。3.烧烤法:在酒精灯、煤气灶、电炉上烧烤 , 等板上锡溶化后起出IC(不易掌握) 。4.锡锅法:在电炉上作专用锡锅 , 待锡溶化后 , 将板上要卸的IC浸入锡锅内 , 即可起出IC又不伤板 , 但设备不易制作 。5.电热风枪:穗磨用专用电热风枪卸片 , 吹要卸的IC引脚部分 , 即可将化锡后的IC起出(注意吹板时要晃动风枪否则也会将电脑板吹起泡 , 但风枪成本高 , 一般约2000元左右) 作为专业硬件维修 , 板卡维修是非常重要的项目之一 。拿过来一块有故障的主板 , 如何判断具体哪个元器件出问题呢?引起主板故障的主要原因1.人为故障:带电插拨I/O卡 , 以及在装板卡及插头时用力不当造成对接口、芯片等的损害2.环境不良:静电常造成主板上芯片(特别是CMOS芯片)被击穿 。另外 , 主板遇到电源损坏或电网电压瞬间产生的尖峰脉冲时 , 往往会损坏系统板供电插头附近的芯片 。如果主板上布满了灰尘 , 也会造成信号短路等 。3.器件质量问题:由于芯片和其它器件质量不良导致的损坏 。清洗首先要提醒注意的是 , 灰尘是主板最大的敌人之一 。最好注意防尘 , 可用毛刷轻轻刷去主板上的灰尘 , 另外 , 主板上一些插卡、芯片采用插脚形式 , 常会因为引脚氧化而接触不良 。可用橡皮擦去表面氧化层 , 重新插接 。当然我们可以用三氯乙烷--挥发*能好 , 是清洗主板的液体之一 。还有就是在突然掉电时 , 要马上关上计算机 , 以免又突然来电把主板和电源烧毁 。流程 。BIOS由于BIOS设置不当 , 如果超频……可以跳线清处 , 摘重新设置 。如果BIOS损坏 , 如病毒侵入…… , 可以重写BIOS 。因为BIOS是无法通过仪器测的 , 它是以软件形式存在的 , 为了排除一切可能导致主板出现问题的原因 , 最好把主板BIOS刷一下 。拔插交换主机系统产生故障的原因很多 , 例如主板自身故障或I/O总线上的各种插卡故障均可导致系统运行不正常 。采用拔插维修法是确定故障在主板或I/O设备的简捷方法 。该方法就是关机将插件板逐块拔出 , 每拔出一块板就开机观察机器运行状态 , 一旦拔出某块后主板运行正常 , 那么故障原因就是该插件板故障或相应I/O总线插槽及负载电路故障 。若拔出所有插件板后系统启动仍不正常 , 则故障很可能就在主板上 。采用交换法实质上就是将同型号插件板 , 总线方式一致、功能相同的插件板或同型号芯片相互芯片相互交换 , 根据故障现象的变化情况判断故障所在 。此法多用于易拔插的维修环境 , 例如内存自检出错 , 可交换相同的内存芯片或内存条来确定故障原因 。观看拿到一块有故障主板先用眼睛扫一下 , 看看没有没烧坏的痕迹 , 外观有没损坏 , 看各插头、插座是否歪斜 , 电阻、电容引脚是否相碰 , 表面是否烧焦 , 芯片表面是否开裂 , 主板上的铜箔是否烧断 。还要查看是否有异物掉进主板的元器件之间 。遇到有疑问的地方 , 可以借助万能表量一下 。触摸一些芯片的表面 , 如果异常发烫 , 可换一块芯片试试 。(1).如果连线断 , 我们可以用刀把断线处的漆刮干净 , 在露出的导线处涂上蜡 , 再用针顺着走线把蜡划去 , 接下来就是在上面滴上硝酸银溶液 。接着就要用万能表来确认是否把断点连接好 。就这样一个一个的 , 把断点接好就可以了 。注意要一个一个的连 , 切不要心急 , 象主板上有的地方的走线间的距离很小 , 弄不好就会短路了 。(2).如果是电解电容 , 可以找匹配的换掉 。万能表、示波器工具用示万能表、波器测主板各元器件供电的情况 。一个是检测主板是否对这部分供电 , 再有就是供电的电压是否正常 。电阻、电压测量:电源故障包括主板上+12V、+5V及+3.3V电源和Power Good信号故障;总线故障包括总线本身故障和总线控制权产生的故障;元件故障则包括电阻、电容、集成电路芯片及其它元部件的故障 。为防止出现意外 , 在加电之前应测量一下主板上电源+5V与地(GND)之间的电阻值 。最简捷的方法是测芯片的电源引脚与地之间的电阻 。未插入电源插头时 , 该电阻一般应为300Ω , 最低也不应低于100Ω 。再测一下反向电阻值 , 略有差异 , 但不能相差过大 。若正反向阻值很小或接近导通 , 就说明有短路发生 , 应检查短的原因 。产生这类现象的原因有以下几种:(1)系统板上有被击穿的芯片 。一般说此类故障较难排除 。例如TTL芯片(LS系列)的+5V连在一起 , 可吸去+5V引脚上的焊锡 , 使其悬浮 , 逐个测量 , 从而找出故障片子 。如果采用割线的方法 , 势必会影响主板的寿命 。(2)板子上有损坏的电阻电容 。(3)板子上存有导电杂物 。当排除短路故障后 , 插上所有的I/O卡 , 测量+5V , +12V与地是否短路 。特别是+12V与周围信号是否相碰 。当手头上有一块好的同样型号的主板时 , 也可以用测量电阻值的方法测板上的疑点 , 通过对比 , 可以较快地发现芯片故障所在 。当上述步骤均未见效时 , 可以将电源插上加电测量 。一般测电源的+5V和+12V 。当发现某一电压值偏离标准太远时 , 可以通过分隔法或割断某些引线或拔下某些芯片再测电压 。当割断某条引线或拔下某块芯片时 , 若电压变为正常 , 则这条引线引出的元器件或拔下来的芯片就是故障所在 。程序、诊断卡诊断通过随机诊断程序、专用维修诊断卡及根据各种技术参数(如接口地址) , 自编专用诊断程序来辅助硬件维修可达到事半功倍之效 。程序测试法的原理就是用软件发送数据、命令 , 通过读线路状态及某个芯片(如寄存器)状态来识别故障部位 。此法往往用于检查各种接口电路故障及具有地址参数的各种电路 。但此法应用的前提是CPU及基总线运行正常 , 能够运行有关诊断软件 , 能够运行安装于I/O总线插槽上的诊断卡等 。编写的诊断程序要严格、全面有针对* , 能够让某些关键部位出现有规律的信号 , 能够对偶发故障进行反复测试及能显示记录出错情况 。IC集成电路的好坏判别方法 一、不在路检测这种方法是在ic未焊入电路时进行的 , 一般情况下可用万用表测量各引脚对应于接地引脚之间的正、反向电阻值 , 并和完好的ic进行较 。二、在路检测这是一种通过万用表检测ic各引脚在路(ic在电路中)直流电阻、对地交直流电压以及总工作电流的检测方法 。这种方法克服了代换试验法需要有可代换ic的局限*和拆卸ic的麻烦 , 是检测ic最常用和实用的方法 。2.直流工作电压测量这是一种在通电情况下 , 用万用表直流电压挡对直流供电电压、外围元件的工作电压进行测量;检测ic各引脚对地直流电压值 , 并与正常值相较 , 进而压缩故障范围 ,  出损坏的元件 。测量时要注意以下八 :(1)万用表要有足够大的内阻 ,  少要大于被测电路电阻的10倍以上 , 以免造成较大的测量误差 。(2)通常把各电位器旋到中间位置 , 如果是电视机 , 信号源要采用标准彩条信号发生器 。3)表笔或探头要采取防滑措施 。因任何瞬间短路都容易损坏ic 。可采取如下方法防止表笔滑动:取一段自行车用气门芯套在表笔尖上 , 并长出表笔尖约0.5mm左右 , 这既能使表笔尖良好地与被测试点接触 , 又能有效防止打滑 , 即使碰上邻近点也不会短路 。(4)当测得某一引脚电压与正常值不符时 , 应根据该引脚电压对ic正常工作有无重要影响以及其他引脚电压的相应变化进行分析 , 能判断ic的好坏 。(5)ic引脚电压会受外围元器件影响 。当外围元器件发生漏电、短路、开路或变值时 , 或外围电路连接的是一个阻值可变的电位器 , 则电位器滑动臂所处的位置不同 , 都会使引脚电压发生变化 。(6)若ic各引脚电压正常 , 则一般认为ic正常;若ic部分引脚电压异常 , 则应从偏离正常值最大处入手 , 检查外围元件有无故障 , 若无故障 , 则ic很可能损坏 。(7)对于动态接收装置 , 如电视机 , 在有无信号时 , ic各引脚电压是不同的 。如发现引脚电压不该变化的反而变化大 , 该随信号大小和可调元件不同位置而变化的反而不变化 , 就可确定ic损坏 。(8)对于多种工作方式的装置 , 如录像机 , 在不同工作方式下 , ic各引脚电压也是不同的 。还要补充二 的是:3.交流工作电压测量法为了掌握ic交流信号的变化情况 , 可以用带有db插孔的万用表对ic的交流工作电压进行近似测量 。检测时万用表置于交流电压挡 , 正表笔插入db插孔;对于无db插孔的万用表 , 需要在正表笔串接一只0.1~0.5μf隔直电容 。该法适用于工作频率 较低的ic , 如电视机的视频放大级、场扫描电路等 。由于这些电路的固有频率不同 , 波形不同 , 所以所测的数据是近似值 , 只能供参考 。4.总电流测量法该法是通过检测ic电源进线的总电流 , 来判 ic好坏的一种方法 。由于ic内部绝大多数为直接耦合 , ic损坏时(如某一个pn结击穿或开路)会引起后级饱和与截止 , 使总电流发生变化 。所以通过测量总电流的方法可以判 ic的好坏 。也可用测量电源通路中电阻的电压降 , 用欧姆定律计算出总电流值 。
IC测试的IC测试分类IC测试一般分为物理性外观测试(Visual Inspecting Test) , IC功能测试(Functional Test),化学腐蚀开盖测试(De-Capsulation) , 可焊性测试(Solderbility Test) , 直流参数(电性能)测试(Electrical Test), 不损伤内部连线测试(X-Ray) , 放射线物质环保标准测试(Rohs)以及失效分析(FA)验证测试 。该过程包括:(1)将粗糙的硅矿石转变成高纯度的单晶硅 。
(2)在Wafer上制造各种IC元件 。
(3)测试Wafer上的IC芯片 。该过程包括:(1)对Wafer(晶圆)划片(进行切割)
(2)对IC芯片进行封装和测试 。

ic测试和芯片测试的区别
没有区别 。ic测试和芯片测试都是普通的测试 , 因此没有区别 , 芯片是是半导体元件产品的统称 , 将电路制造在半导体 。
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